产品目录
您所在的位置:首页 >> 产品中心 >> 金相显微镜
DIC微分干涉工业检测显微镜
 微分干涉显微镜

WFX-10显微镜稳定可靠,操作方便,成像清晰,图像输出功能。广泛应用于半导体、电子工业。对晶体、集成电路的检验和科学研究。WFX-10显微镜为无限远光学系统,采用长工作距离平场复消色差物镜,稳定可靠的架台,精确的调焦机构。

l  LED同轴落射光源和LED透射光源照明系统。

l  偏光系统检偏镜可转动100度便于偏光正交观察。

l  可调节的DIC棱镜插板可得到最佳的微分干涉效果。

l  视野单目观察,减少很多中间环节,成像更清晰。

l  可以配置各种图像采集设备。

显微镜用途:

1.         明场观察:亮度可调的同轴照明,适用晶体、集成电路的检验、精密制造业的装配、零件检测和品质控制。

2.         透射观察:亮度可调的透射照明,可观察透明样品,尤其对液晶显示屏的检测效果更好,能清楚观察检测发光屏的三色模块。

3.         偏光观察:系统内装置偏光机构,起偏镜固定在照明系统;检偏镜装置在成像系统、100度可调,便于正交观察。主要对金相样品进行正交偏振光观察,还可应用于矿物、化学等领域。

4.     DIC观察--微分干涉观察在明场、偏光正交的系统里再插入DIC棱镜装置(拉斯顿棱镜)。DIC作为一种极具前途的分析检验方法,具有对金相样品的制备要求较低,所观察到的样品各组成之间的相对层次关系突出,呈明显的浮雕状,对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能作出正确的判断,能够容易判断许多明场下所看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷,可进行彩色金相摄影等优点。

尤其对液晶显示屏导电板的检测效果更好,能够清楚的观察到导电板基板上的导电粒子。使用DIC技术,可以使物体表面微小的高低差展现出清晰,轮廓突出,带立体感的浮雕成像,极大的提高图像的对比度。

明场观察

DIC观察导电粒子

规格配置:

1.     无限远光学系统:f=200mm

2.     放大位数:50X100X200X500X

3.     长工作距离:5~45mm

4.     调焦范围:60mm

5.     工作台:260X220mm、玻璃台版:170X150mm

6.     移动范围:X:±75mm Y:±75mm   


上一条:暂无!
下一条:徕卡DMI5000M倒置金相显微镜
Copyright © 2020 南京东图数码科技有限公司 All Rights Reserved . 苏ICP备08105567号-1