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ZeeScan 3D成像系统,三维立体成像显微镜
发表时间:2015-3-23  文字 〖 〗  阅读次数:2205   [关闭窗口]
 


ZeeScan
   3D显微镜插件(三维立体显微镜插件)

Zeescan 通过显微镜C-MOUNT 接口,扩展出强大的3D图像平台。ZeeScan兼容通常的工业、材料显微镜和立体显微镜,可广泛应用于工业质量控制和材料科学。实现:3D表面分析和测量、形貌和粗糙度测量、自动深度叠加、景深扩展等功能。


ZeeScan功能特点:

1、无需移动物镜或载物台,样品空间保持完全自由

2、没有运动部件,避免了样品震动或扰动

3ZeeScan通过C-MOUNT视频接口连接到显微镜,无需改造显微镜和其他额外的配件

4ZeeScan兼容C-MOUNT接口的相机,不用改变标准相机的结构使用习惯。



     
 ZeeScan用于正置显微镜  ZeeScan用于立体显微镜  ZeeScan用于荧光成像显微镜
         

高分辨率数字图像  ZeeScan光学组件能提供清晰明快的高分辨率数字图像

多种图像功能  自动聚焦  深度测量  Z轴图像序列  景深扩展  三维重建

ZeeScan能完成标准的正置或倒置显微镜的所有材料应用的关键任务

3D 表面测量  面形  表面粗糙度  波浪  阶梯高度

与复杂、笨重和昂贵的系统相比,ZeeScan是一种快速而廉价的表面形貌测量方法

GetPhase软件   

GetPhase® 软件支持Windows 8, 7, XP & Vista.

GetPhase 提供图像自动采集,2D/3D 图像分析,文档和报告等工具

图像获取和处理

2D/3D图像显示和分析

图像数据输出和报告

自动聚集和曝光

感兴趣区域

导航

明场、暗场、相差、DIC3D浏览

文字和图像叠加

2D/3D测量

图像融合

ISO粗糙度标准

梯度测量

项目存档

Excel格式3D数据

第三方软件的3D数据

报告编辑

HTML兼容报告


强大的图像工具

图像浏览和显示

高分辨率Z轴图像序列,可完美的用于自动图像融合(景深扩展),深度测量或3D重建。

2D测量和图像记录、报告


快速精确的3D表面测量

ZeeScan非常快速和简单的方法实现3D图像获取和测量。非接触式光学表面分析具有高度可重复性:

微米或纳米级3D表面分析

具有从光滑到粗糙表面的测量能力

ISO粗糙度和阶梯高度测量

高效的图像获取和处理


ZeeScan
性能参数

ZeeScan参数   

相机兼容性

C接口相机,光学格式2/3”或更小

显微镜接口要求

推荐1C C-MOUNT视频接口

计算机接口

USB2.0

电源

110/220v AC

物理尺寸

ZeeScan110(H) 80(W) 56(D)

控制器:40(H) 158(W) 150(D)

重量

ZeeScan470g  控制器:150g

3D测量参数

Z轴扫描范围和分辨率由物镜和C-MOUNT接口综合放大倍率决定。左侧为标准物镜放大倍数和1X C-MOUNT接口下的的参数。

对于其他物镜放大倍数或C接口放大倍数,遵循以下公式:

Z

物镜

Z轴范围(um

Z轴分辨率(um

5X / 0.10

10X / 0.25

20X / 0.45

50X / 0.8

640

160

40

6.4

0.32

0.08

0.02

0.003

轴范围=16mm/ (G_Obj * G_adapt)²

Z 分辨率=物镜景深/4

G_Obj= 物镜放大倍率,G_adapt =C接口放大倍数

精度:1%

重复性:0.35%

最大斜率:90°

XY空间分辨率取决于相机分辨率和物镜放大倍数

粗糙度测量参数

12项分析参数,包括经常使用的Ra (Sa), Rq (Sq), Rz(Sz)参数。符合ISO 428725178DIN4768标准。

测量范围:Ra, Rq: 0.01-500μm

测量精度:≤±10%

重复性:6%


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